آزمون و آزمون‌پذیری
Test and Testability
| مقطع: تحصیلات تکمیلی | گرایش: معماری سیستم‌های کامپیوتری |
| نوع درس: نظری | تعداد واحد: ۳ |
| پیش‌نیاز: – | هم‌نیاز: – |
هدف کلی
در این درس، دانشجویی که با اصول کلی طراحی سیستم‌های دیجیتال آشنایی دارد با مفاهیم کلی آزمون‌پذیری از جمله مدل‌های اشکال، شبیه‌سازی اشکال، مقیاس‌های آزمون‌پذیری، تولید خودکار بردارهای آزمون آشنا می‌شود، به‌نحوی که بتواند سیستم‌های دیجیتال آزمون‌پذیر را طراحی نماید. بدین منظور، ابتدا اهداف و روش‌های آزمون سیستم‌ها بررسی می‌شود و سپس روش‌های بهبود آزمون‌پذیری سیستم‌ها مطالعه می‌شود و در نهایت این مورد بحث می‌شود که چگونه این روش‌ها در فرآیند طراحی خودکار یک سیستم دیجیتال وارد می‌شوند تا به یک سیستم آزمون‌پذیر منتهی شود.
سرفصل‌ها
- آشنایی با مفاهیم آزمون‌پذیری و انواع آزمون
- بازده ساخت (yield) و کیفیت تولید، و نقش آزمون در آن
- مدل‌سازی و شبیه‌سازی اشکال
- نمونه‌برداری از اشکال
- اندازه‌گیری قابلیت آزمون
- تولید خودکار بردار آزمون
- حذف افزونگی با استفاده از تولید بردار آزمون
- الگوریتم‌های تولید بردار آزمون برای مدارهای ترکیبی و ترتیبی
- طراحی آزمون‌پذیر موردی و ساخت‌یافته (طراحی پیمایشی کامل و پاره‌ای)
- خودآزمای درونی (BIST): تولید بردار تصادفی، فشرده‌سازی پاسخ
- استاندارد پویش مرزی
ارزیابی پیشنهادی
- ارزش‌یابی مستمر: تکالیف ۲۰ درصد نمره
- بررسی مقالات و ارائه گزارش ۲۰ درصد نمره
- آزمون‌ها: نوشتاری ۳۵ درصد نمره
- پروژه: تکالیف کامپیوتری و پروژه ۲۵ درصد نمره
منابع پیشنهادی
- Z. Navabi. Digital System Test and Testable Desgin. Springer, 2011.
- L. Wang, C. Wu, and X. Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann, 2006.
- M. L. Bushnell and V. D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing. Springer 2002.